測定装置 製品一覧
- 新商品PicoQuantマルチモーダルイメージング マイクロフォトルミネッセンス アップグレード
特定の領域や関心点の高分解能定常発光スペクトルと時間分解発光スペクトルの両方を取得することが可能。空間、スペクトル、寿命測定を一体化した時間分解マイクロフォトルミネッセンス分光のイメージング装置です。
- 新商品PicoQuant小型直立型広視野フォトルミネッセンス 蛍光発光 顕微鏡 FluoMic
小型広視野のフォトルミネッセンス(蛍光発光)顕微鏡。psのタイミング分解能で数psから数msの寿命検出範囲。375~1060nmの励起波長を選択可能。半導体ウェハのテストと分析、太陽電池材料とペロブスカイトの研究、ディスプレイ、LEDの材料との特性評価に最適です。
- 新商品保護中: 回折格子&薄膜 微細寸法計測装置
ナノ構造の幾何学的パラメータの変位や光学特性の変化を、製造中に非接触かつ非破壊で判定します。フォトニクス、半導体、量子技術のためのグレーティングや薄膜の品質検査に好適です。
- 新商品FSM Precision大型サンプル対応AFM 最大12インチ NanoViewラージスキャナシリーズ
NanoViewラージスキャナシリーズは4~12インチのサンプルを分割することなく直接観察が可能。表面粗さ、粒子サイズ、ステップ高さなどの3次元表面形状の画像が取得可能な最も直感的で高速かつ費用対効果に優れた産業用AFMです。また自動ポジショニングのための座標の設定も可能で、製品開発と品質管理にとって最適なツールをなっています。
- 新商品SENSOFAR Metrology高精細 大型サンプル向け 白色干渉計 共焦点顕微鏡システム S neox Grand Format
半導体、ディスプレイ、プリント基板における大型の基板の3D表面測定が可能な白色干渉計・共焦点顕微鏡システムです。測定ソフトウェア、また特定の測定ニーズに合わせたプラグインも幅広くご用意。アプリケーションに適した測定ソリューションをご提供致します。
- 新商品SENSOFAR Metrology検査工程向け自動解析ソフトウェア SensoPRO
Sensofarの白色干渉計および共焦点顕微鏡で得られる形状データを自動解析するソフトウェアです。主に品質管理、検査用途での使用を目的としており、ユーザーは素早く、簡単に解析結果が取得できます。
- 新商品Quantifi Photonics高速通信アナライザ デジタル サンプリング オシロスコープ
高品質かつ高精度なタイムベースと低ジッタ・モードを持つデジタルサンプリングオシロスコープです。超低ジッター性能を実現。コスト効率が高く、スケーラブルで高い拡張性を備えています。高精度な測定を同時に実行が可能で、テストのスループットを最適化し、テスト全体のコストを削減できます。コンパクト設計、リモートコントロールとAPIで装置に簡単に組込んでいただけます。
- 新商品Quantifi Photonics光ドップラー速度計測 ( PDV )
フォトニックドップラー速度計測(PDV)は、数10km/sまでの高速度事象の計測に用いられる確立された技術です。ヘテロダイン速度計とも呼ばれ、VISAR(Velocity Interferometer System for Any Reflector)の補助ツールまたは代替ツールとして使用することが出来ます。
- おすすめQuantifi PhotonicsPXIプラットフォーム (コントローラ・通信用レーザー・パワーメータ・可変減衰器・コンバータ等)
PXI(PCI Extensions for Instrumentation)に対応。通信用レーザー・パワーメータ・コンバータ・減衰器・光/電気コンバータ等を1つのプラットフォームに一体化することが可能です。高い拡張性から計測モジュールの交換が可能。用途に合わせて複数のレーザーやパワーメータなど組み合わせカスタマイズが出来ます。使い易いソフトウェアでプラットフォームの全ての機能にアクセス頂けます。
- おすすめQuantifi Photonics周波数分解型光ゲーティングパルスアナライザ
IQFROG周波数分解光ゲートパルスアナライザは、300fs~50psのパルスの強度・位相測定に適した分光分解第二高調波発生(SHG)自己相関器です。
- おすすめQuantifi Photonicsビットエラーテスター パルスパターン発生器
高密度マルチチャンネルのパルスパターン発生器及びビットエラー検出器です。光トランシーバーや光学電子部品での設計、特性評価、製造用のテストで使用いただけます。
- おすすめXiton Photonics266nm 355nm 532nm 1064nm 単一周波数固体レーザー “EXCITE シリーズ”
単一周波数固体レーザーシステムのEXCITEシリーズは、UV領域のアプリケーションに対応します。ウエハ検査、分光器の校正、干渉計のアプリケーションに使用いただけます。理論的なフーリエ限界に近い値である50MHz以下のスペクトル帯域幅を実現しています。
- 新商品Yixi Intelligent Technologyレーザー光源内蔵 ラマン分光計 “YOA-8401シリーズ”
狭線幅レーザーを内蔵したラマン分光計 励起波長が785nmと532nmのタイプをラインナップ。4000cm-1までの広いスペクトル範囲と8cm-1以上の高い分解能で、物質分析・同定が可能です。
- 新商品SENSOFAR Metrologyクリーンルーム対応 装置組込み用白色干渉計・共焦点顕微鏡 S neox Cleanroom sensor
クリーンルーム対応。高い柔軟性を持つ装置組込み用顕微鏡ヘッド。さまざまなアプリケーションに適合します。ISO Class 1及びESDの規格に対応。
- おすすめSENSOFAR Metrology装置組込み用非接触面粗さ計 S mart sensor
S mart 2は、白色干渉計とエリア共焦点(コンフォーカル)の技術による3D表面形状測定が可能な装置組込み用顕微鏡ユニットです。3Dレーザー顕微鏡と同等の分解能と精度、再現性による表面形状・粗さ測定を実現可能です。
- 新商品PicoQuant単一光子検出共焦点蛍光顕微鏡 Luminosa
単一光子検出共焦点蛍光顕微鏡。最高のデータ品質と使い易さを兼ね備えた蛍光顕微鏡です。自動化により測定時間を短縮を実現。実験室に簡単にインストールいただけます。
- 新商品Spacetek Technology小型 高性能 飛行時間型質量分析計 (TOF-MS/RGA)
Spacetek Technology社の IonTamer™ は飛行時間型の質量分析計 / 残留ガス分析器 (TOF-RGA) です。ガス組成をリアルタイムで、高分解能、高感度にモニターします。世界最高性能のRGAであるIonTamer™は、これまで実験室用装置でしか得られなかった性能を、コンパクトで扱いやすく、組み込み可能にしました。半導体製造、OLEDディスプレイ製造、光学部品、ソーラーパネル製造、真空コーティングプロセス(CVD、PVD、ALD)、真空炉、冶金、超高真空などでの研究、過酷な環境下での用途に対応します。
- 新商品NPI Lasers2μm ナノ秒パルス ファイバーレーザー “PowerWave2000-ns”
中赤外スーパーコンティニューム光源の励起に最適。中心波長 1900~2000 nm、繰り返し周波数 kHz~MHz、パルスエネルギー10 μJにて最大出力10 W
- 新商品Bristol Instruments高精度・多層膜・非接触 厚み計 157/137シリーズ
※デモ機あり、サンプル測定可能 高精度 (±0.1 μm)、12μm から 80mmの広い範囲が測定可能な膜厚計(厚み計)です。独自の非接触光学技術を採用。硬質材料と軟質材料の両方を、損傷や変形なく厚さ測定をすることができます。最大31層の厚みを同時に測定することが可能です。
- 新商品NKT Photonics広帯域 波長可変レーザー 400-1000nm SuperK CHROMATUNE
SuperK CHROMATUNE は超広帯域な波長可変レーザーです。400-1000 nm もの広い波長域をギャップフリーでカバーし、1mW の光パワーを一定に出力します。寿命は数千時間で、信頼性の高い製品です。メンテナンスフリーで、アライメントや調整も不要です。