レーザー回折式 粒度分布測定装置 HELOS

粒子に対して平行光を照射すると、無限遠上に回折像が得られます（フラウンホーファ回折）。この回折像は光軸と垂直方向に展開する明暗パターンであり、そのパターンは粒子の粒径と形状で一義的に決まります。つまり、回折像の明暗の強度分布を検出することで、その粒子の粒径を解析できます。このパターンを過不足なく検出するには、同心円状のセンサが必要です。

HELOSシステムはモジュール性が高く、測定試料に応じて分散器や測定レンジを組合わせることで、最適な測定環境を構築できます。分散器は乾式・湿式ともに選択できるため、乾燥試料は乾式で、湿潤試料は湿式で、試料をそのままの状態で測定できます。
また、厳密なフーリエ光学系を採用しているため、測定エリアが広く、その全域で優れた解像力を発揮します。そのため、乾式測定の際にもセルやキュベットで測定エリアを制限する必要がなく、粉末でさえも測定エリア内にエアロゾル状に分散させて測定できます。分散した粉末がセルやキュベット内で再凝集することがないため、信頼性の高い測定が可能です。
測定中は毎秒2000回ものサンプリング（データ抽出）を行います。そのため、エアロゾル状の高速気流でも個々の試料を正確に抽出できるだけでなく、少量の試料でも十分なサンプルサイズが得られます。

 乾式分散器

 湿式分散器

 その他（エアロゾル測定、インライン式測定器など）