製品情報

単色ピコ秒利得スイッチングレーザー。光ファイバー結合効率40％の高効率を実現（450nm、488 nm、515 nm､640 nm)。ピコ秒、ナノ秒、CW、高速スイッチングCWに対応。完全コンピュータ制御でコンパクトかつお手頃な価格のレーザーです。

近赤外から紫外まで（NIR-UV）対応 のDPSSレーザー。最大出力300µJ @ 1064nm、LiDAR、MALDI-TOF質量分析、LIBS（レーザー誘起ブレークダウン分光法）に最適なレーザーです。またコンパクト設計でOEM組込み用途にも最適です。

ナノ秒の波長可変レーザー。光音響イメージング、レーザー分光法、LiDAR、バイオメディカルへの使用が最適。レーザー光源、OPOモジュール、冷却システムなど可動式キャビネットに一体化されてあり、お客様のご要望にあわせて柔軟にご使用いただけます。

特定の領域や関心点の高分解能定常発光スペクトルと時間分解発光スペクトルの両方を取得することが可能。空間、スペクトル、寿命測定を一体化した時間分解マイクロフォトルミネッセンス分光のイメージング装置です。

小型広視野のフォトルミネッセンス（蛍光発光）顕微鏡。psのタイミング分解能で数psから数msの寿命検出範囲。375～1060nmの励起波長を選択可能。半導体ウェハのテストと分析、太陽電池材料とペロブスカイトの研究、ディスプレイ、LEDの材料との特性評価に最適です。

サンプルは12インチ 300 mm × 300 mm まで対応のAFM。ナノ加工における研究開発および故障解析に最適な最先端の ナノ化学測定装置。業界トップクラスの自動化を実現したAFMです。

OptoFidelity社のSCOUT は、さまざまなAR/XRグラスとサブアセンブリのための、多目的なイメージングおよびテストステーションです。テスト対象デバイス（DUT）の画質を包括的に評価し、アイボックス、視野（FOV）、両眼視差、コントラスト比、色、均一性、幾何学的歪みといったさまざまな要素を測定します。

AR/VR/MRグラスのトラッキングとレイテンシの一貫した検査が可能で、仮想世界の位置がロボットの位置によってどのように変化するかを、非接触で測定します。トラッキングと時間特性に影響を与えるコンポーネントやアセンブリをテストできます。

AR導光板グレーティングの品質を総合的に評価できる高精度な回折計システムです。完全自動化システムで、回折格子のピッチと方向を測定し、ピコメートルおよび秒角スケールの高い精度で、グレーティング構造の欠陥を検出できます。種類や基板に関係なくあらゆるグレーティングサンプルを測定でき、グレーティング構造の均一性を広い領域にわたって評価できます。

AR導光板の画像品質テストを自動で行えます。あらゆるAR導光板の画像品質を、タイプや構成に関係なく、確実かつ自動で測定でき、導光板の設計や製造における重要なフィードバックを提供します。プロトタイプ製造や少量生産に最適なR&D向けモデルです。

ナノ構造の幾何学的パラメータの変位や光学特性の変化を、製造中に非接触かつ非破壊で判定します。フォトニクス、半導体、量子技術のためのグレーティングや薄膜の品質検査に好適です。

He-Neレーザーの電源装置は、長寿命、低ノイズ、OEM組込みにも適した設計になっています。遠隔操作も対応しています。最新のマイクロコントローラーによる制御で様々なレーザーモデルに対応いたします。

レーザー波長計872シリーズ：極細分解能で可視・近赤外域を網羅、量子コンピュータや原子冷却にも最適独自のフィゾー・エタロン技術で200kHzまでの測定分解能を実現したレーザー波長計872シリーズは、可視域から近赤外域までの幅広い波長に対応し、レーザー周波数安定化に最適です。量子コンピュータや原子冷却など、高精度な波長測定が求められる研究開発にご活用いただけます。最大8台までのレーザー接続と安定化を可能にするマルチレーザーPIDコントローラーや、ファイバーオプティクススイッチもアクセサリでご用意しております。

NanoViewラージスキャナシリーズは4～12インチのサンプルを分割することなく直接観察が可能。表面粗さ、粒子サイズ、ステップ高さなどの3次元表面形状の画像が取得可能な最も直感的で高速かつ費用対効果に優れた産業用AFMです。また自動ポジショニングのための座標の設定も可能で、製品開発と品質管理にとって最適なツールをなっています。

DPSSL-XPシリーズは、小型のDPSSレーザーです。波長 473nm〜640nmをラインアップ。分光学、干渉計、共焦点・蛍光顕微鏡、バイオ分析研究、粒子計測、産業計測、ホログラフィー、科学教育分野など幅広い用途でご使用いただけます。コンパクトでメンテナンスフリー設計、優れたビーム品質を持ち、長期安定性に優れています。必要な電子制御回路は内蔵され、OEM製品への組み込みが簡単です。

ARグラス用導光板の製造環境向けに開発された、高速で使いやすい画像品質検査システムです。AR導光板製造の全工程にわたって、一貫した品質管理を実現し、AR導光板の大量生産における高いスループットと歩留まりが得られます。自動合否判定やモーションコントロールなど、簡単操作でコスト削減する一方、ユーザーに合わせた高度な解析を可能にするAPIと高い拡張性を提供します。製造ラインと試作ラインの両方に好適です。

半導体、ディスプレイ、プリント基板における大型の基板の3D表面測定が可能な白色干渉計・共焦点顕微鏡システムです。測定ソフトウェア、また特定の測定ニーズに合わせたプラグインも幅広くご用意。アプリケーションに適した測定ソリューションをご提供致します。

Sensofarの白色干渉計および共焦点顕微鏡で得られる形状データを自動解析するソフトウェアです。主に品質管理、検査用途での使用を目的としており、ユーザーは素早く、簡単に解析結果が取得できます。

液体や固体の材料分析用途に最適な、CW発振、縦モードシングルのチューナブル半導体レーザーです。ユーザーのニーズに合わせたカスタム仕様でOEM製造いたします。中心波長の選択可能範囲 1500-3500 nm、波長可変域 約100-150 nm、出力パワー 1-5 mW、チューニング速度 100nm/ms（いずれも中心波長、環境温度などにより異なります）

高品質かつ高精度なタイムベースと低ジッタ・モードを持つデジタルサンプリングオシロスコープです。超低ジッター性能を実現。コスト効率が高く、スケーラブルで高い拡張性を備えています。高精度な測定を同時に実行が可能で、テストのスループットを最適化し、テスト全体のコストを削減できます。コンパクト設計、リモートコントロールとAPIで装置に簡単に組込んでいただけます。